戴超，男，1988年02月生，博士，副研究员。
2018年中国科学技术大学博士研究生毕业获工学博士学位；2018-至今，中国科学院合肥物质科学研究院。
办公电话：0551-65591781
电子邮件：dc@ipp.ac.cn
主要研究方向：
超导材料性能研究；聚变堆用高性能复合超导导体设计及制备技术；复合超导导体性能表征与分析；超导导体多场耦合数值模拟；
科研工作：
主持或参加国家自然科学基金等国家、省部级科研项目10余项、授权国家发明专利6项，发表高水平SCI论文10余篇。
主要科研项目：
[1] 科技部ITER专项，面向高场应用的新型高性能CICC 超导导体研制，高性能Nb3Sn导体性能衰退机理研究，主持；
[2] 发改委十三五重大科技基础设施建设项目，CFETR环向场线圈-高性能导体研发，主持；
[3] 发改委十三五重大科技基础设施建设项目，导体性能研究平台-导体设计与制造，主持；
[4] 中国科学院合肥物质科学研究院项目，高温超导导体性能衰退机理研究，主持；
代表性论文论著：
[1] C. Dai, Y. Wu, J. Li et al., “Performance test and analysis of the first large-scale cable-in-conduit conductor with high Jc Nb3Sn strand for fusion reactor,” Nuclear Fusion, vol. 61, no. 3, pp. 036044, 2021/02/22, 2021.
[2] C. Dai, Y. Wu, J. G. Qin et al., “Conceptual Design of 15 Tesla Conductor Test Facility for Future Fusion Reactor,” IEEE Transactions on Applied Superconductivity, vol. 30, no. 4, Jun, 2020.
[3] C. Dai, Yu. W, Qin J, et al. The Axial Tensile Stress–Strain Characterization of Ag-Sheathed Bi2212 Round Wire[J]. IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 2015, 25(3):1-4.
[4] C. Dai, Qin J, Liu B, et al. Uniaxial Strain Induced Critical Current Degradation of Ag-Sheathed Bi-2212 Round Wire [J]. IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 2017, (99):1-1.
[5] C. Dai, Kosse, J. J., Zhang, H., Liu, L., Qin, J., Wu, Y., ... & Liu, S. A Numerical Adiabatic Model for the Quench Behavior Analysis of the Ag-Matrix Bi-2212 Round Wire, IEEE Transactions on Applied Superconductivity, (2018).28(8), 1-6.
[6] C. Dai, Wu, Y., Li, J., Qin, J., Liu, F., Liu, H., ... & Liu, S. Stability analysis on Nb 3 Sn sample conductor of CFETR central solenoid model coil. Fusion Engineering and Design, 2018,133, 59-63.
[7] Z. Guo, C. Dai*, J. Qin et al., “Research on mechanical properties of high-performance cable-in-conduit conductors with different design,” Superconductor Science and Technology, vol. 33, no. 4, pp. 045002, 2020/02/17, 2020.
发明专利：
[1] 一种高温超导CICC导体及其制造方法，201610575515.3；
[2] 一种高温超导材料的电缆的制造方法，201610068873.5；
[3] 一种聚变用超导电缆的绞制方法，201610068812.9;
[4] 一种超导股线可变弯曲临界性能测试样品杆，CN201910414724.3